说明： tcxo 的频率老化率为： ±0.2ppm～±2ppm （首年）和±1ppm～±5ppm （十年） （除特殊情况，tcxo 很少采用每天频率老化率的指标，因为即使在实验室的条件下，工业级晶振封装尺寸，温度变化引起的频率变化也将---超过温度补偿晶体振荡器每天的频率老化，因此这个指标失去了实际的意义）。ocxo 的频率老化率为： ±0.5ppb～±10ppb/天（加电 72 小时后），工业级晶振厂商，±30ppb～±2ppm（首年），±0.3ppm～±3ppm（十年）。
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晶振的负载效应定义为空载输出相对频率与加额定负载后的输出相对频率之差。一般高稳晶振加电阻，电容，电感性负载后所引起的相对频率变化大约在 0.2ppb 左右，而恒温晶振的老化率一般也在 0.2ppb/天左右，因此需要设法---负载效应，以---负载变化时，工业级晶振，振荡器有较高的频率准确度。而负载特性不好的一个主要原因是振荡电路的地线和电源线存在一定的阻抗。
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首先，工业级晶振批发，选用性能十分稳定的晶体管，选用漏电流很小的晶体管；其次，几乎晶体管的所有参数都与电源电压有关，为振荡器设计一个内部稳压电源是稳定晶体管参数的重要手段；再次，晶体管的参数对温度较敏感，提高恒温槽水平。
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